激光测厚仪
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UM1超声波测厚仪UM1超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚
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